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OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀ELSZ-2000S

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OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀ELSZ-2000ZS

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OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀SAQLA

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OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀 ELSZneoSE

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OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀ELSZneo

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代理OTSUKA大塚電子半導體SIO測厚儀OPTM-F3

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代理OTSUKA大塚電子半導體SiC測厚儀OPTM-F2

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OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀OPTM-F1代理

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀OPTM-F1，OTSUKA大塚半導體行業Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
OTSUKA大塚電子自動XY型OPTM-A2顯微分光膜厚儀

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OTSUKA大塚電子自動XY型OPTM-A1顯微分光膜厚儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子自動XY型OPTM-A1顯微分光膜厚儀，OTSUKA大塚半導體行業Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
Otsuka單元間隙檢測裝置RETS系列

支持從反射/透射型 LCD 封閉單元到帶彩色濾光片的空單元的各種單元
蘇州代理OTSUKA激活測量儀 RETS-100nx

支持OLED用偏光板、層疊型相位差板、IPS液晶相位差板偏光板等各種薄膜的相位差測量裝置。實現與超高 Re.60000 nm 兼容的高速、高精度測量。可以“無剝離”和“無損”測量薄膜的層壓狀態。此外，它配備了簡單的軟件和校正功能，支持由于樣品重新定位而導致的錯位，從而實現簡單且高精度的測量。
蘇州代理OTSUKA 線掃描膜厚儀在線式

它是一種可以在在線薄膜生產現場測量薄膜厚度的設備。通過將開創的光譜干涉儀與新開發的高精度膜厚計算處理技術相結合，可以以 0.01 秒的測量間隔以*短的。
蘇州代理OTSUKA光譜干涉晶片測厚儀SF-3

在晶圓等的研磨和拋光過程中，晶圓和樹脂的厚度以超高速和高精度非接觸式測量。
蘇州代理大冢電子光譜橢偏儀 FE-5000 / 5000S

除了可以進行高精度薄膜分析的光譜橢偏儀外，我們還通過實現測量角度的自動可變機構來支持所有類型的薄膜。除了傳統的旋轉式光子檢測器方法外，還通過提供相位差板的自動裝卸機構提高了測量精度。
蘇州代理大冢電子膜厚監測儀FE-300

它是一種緊湊且價格低廉的薄膜厚度計，通過高精度光學干涉法實現薄膜厚度測量，操作簡單。我們采用一體式外殼，將必要的設備容納在主體中，實現穩定的數據采集。可以通過以低廉的價格獲得優良反射率來分析光學常數。

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