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無錫KOSAKA小坂臺階儀微細形狀測定機ET8000

臺階儀可以應用在半導體，光伏/太陽能，光電子，化合物半導體，OLED，生物醫藥，PCB封裝等領域的薄膜厚度，臺階儀測量薄膜厚度,臺階高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），劃痕深度，磨損深度，薄膜應力（曲定量率半徑法）等定量測量方面。其高精度，高重復性，自動探索樣品表面
蘇州小坂KOSAKA臺階儀微細形狀測定機ET200A-D

ET200A基于Windows 操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用。ET200A 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數。
江蘇KOSAKA小坂臺階儀微細形狀測定機ET200A

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國內總代kosaka小板非接觸式探測器

國內總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創立的公司，也是日本一家發表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術背景的業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業占有一席無法被取代的地位國內總代kosaka小板非接觸式探測器總代
kosaka小板表面粗糙儀載物臺驅動型

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總代kosaka小板精密緊湊高性能的3D測量

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日本KOSAKA小坂粗糙度儀SE800粗糙儀總代理

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表面粗糙測定儀SE300小坂KOSAKA華東總代

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小坂KOSAKA臺階儀表面粗糙測定儀SE300-30總代

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總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A

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非接觸式探測器KOSAKA小坂可測量12~500微米

國內總代非接觸式探測器KOSAKA小坂可測量12~500微米非接觸式測量允許在不損壞樣品的情況下進行測量。緊湊的光學布置可實現內徑的表面紋理測量，這在現有的非接觸式檢測器中是困難的。
載物臺驅動表面粗糙度測量KOSAKA總代

國內總代載物臺驅動表面粗糙度測量KOSAKA總代這種工作臺移動測量機具有很高的直線度測量精度，可以輕松準確地測量小而**的零件。使用數字秤進行數字采樣檢測器固定移動工作臺式
三維表面粗糙度KOSAKA小坂臺階儀3D測量

國內總代三維表面粗糙度KOSAKA小坂臺階儀3D測量可以在**表面粗糙度測量機上添加三維表面粗糙度測量功能。您可以使用“線和表面”深入評估目標表面。
日本KOSAKA小坂粗糙度儀測量SE800國內總代

國內總代日本KOSAKA小坂粗糙度儀測量SE800國內總代它可以根據ISO，JIS，DIN，ASME和BS等國際標準以及每個國家的新舊標準進行測量。為此，可以使用各種濾波器、截止值、測量長度和計算方法。
KOSAKA粗糙度儀SE500A表面粗度測定機

國內總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量儀器SE500A它可強力執行表面粗糙度、波紋度測量和階梯測量。它支持多種參數，可以同時分析多個標準。它是一種精密、緊湊和高性能的測量機，具有高度可擴展性，適用于所有應用。
江蘇KOSAKA全自動微形測量機臺階儀3D

江蘇總代KOSAKA全自動微形測量機臺階儀3D 可以在**表面粗糙度測量機上添加三維表面粗糙度測量功能。您可以使用“線和表面”深入評估目標表面。

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